Бесконтактные методы измерения шероховатости

Способы и методы измерения шероховатости поверхности.

Любая, обработанная даже тщательнейшим образом поверхность детали, не может быть полностью идеально ровной. Значение гладкости и ровности поверхности детали в любом случае будет отличаться от заданного чертежом значения, т.е. от номинального значения. При этом, отклонение может быть либо макрогеометрическим, либо микрогеометрическим. Макро геометрические отклонения могут быть охарактеризованы волнистостью детали и несоответствием форме. Микрогеометрические отклонения, в свою очередь, определяются не чем иным, кроме шероховатости поверхности.

Шерховатость — это совокупность микронеровностей появляющихся на поверхностях готовых изделий или деталей. При этом, шаг неровности, принимаемый в качестве шероховатости, должен быть очень мал, относительно базовой длины всей поверхности.

Вообще, принято выделять три вида шероховатости объекта:

Исходная шероховатость — возникающая в результате технологической обработки изделия различными абразивами.

Эксплуатационная шероховатость — это приобретаемая в процессе эксплуатации шероховатость в результате износа и рабочего трения.

Равновесная шероховатость — это вид эксплуатационной шероховатости, который можно воспроизвести в стационарных условиях трения.

Параметры шероховатости определены в ГОСТ 2789-73 «Шероховатость поверхности. Параметры, характеристики и обозначения». Согласно этому документу, выделяют такие показатели шероховатости, как:

  • Ra — это среднее арифметическое значение отклонения профиля.
  • Rz — это высота неровностей профиля, снятая в 10 точках.
  • S — это средний шаг местных выступов профиля;
  • Sm — это среднее арифметическое значение шага неровности;
  • Rmax — это максимальная высота профиля;
  • tp — это относительная длина профиля (опорная), р — это уровень сечения профиля.

При задании шероховатости, как правило, используется параметр ср. арифм-го. отклонения профиля (Ra).

Стоит отметить, что именно шероховатость, оказывает наиболее сильное влияние на эксплуатационные характеристики двигателей машин, а также деталей и узлов различного оборудования. Возможно, именно поэтому, точное определение значения шероховатости — одна из самых важных задач метрологии.

Оценка шероховатости может производиться двумя способами:

Наиболее точным, на момент написания статьи, является поэлементный способ, который может быть осуществлен различными методами определения шероховатости:

1) Щуповой метод измерения шероховатости поверхности — это контактный метод, измерения при котором производятся при помощи профилометра. Профилометр представляет собой чувствительный датчик, оборудованный тонкой, остро заточенной алмазной иглой, с так называемой, ощупывающей головкой.

Алмазная игла прижимается и перемещается параллельно исследуемой поверхности. В местах возникновения микронеровностей (выступов и впадин), возникают механические колебания измерительной головки иглы. Эти колебания передаются в датчик, преобразующий механическую энергию колебания в электрический сигнал, который усиливается преобразователем и измеряется. Записанные параметры этого сигнала в точности повторяют неровности на шероховатой поверхности детали.

Профилометры, по признаку типа преобразователя сигналов, разделяют на пьезоэлектрические, электронные, индукционные и индуктивные. Наиболее распространены приборы, использующие индуктивные преобразователи.

В качестве примера профилометра можно привести приборы моделей «СЕЙТРОНИК-ПШ8» (модели СЕЙТРОНИК-ПШ8-1, СЕЙТРОНИК-ПШ8-2, СЕЙТРОНИК-ПШ8-3 и СЕЙТРОНИК-ПШ8-4) а также старый-добрый «профилометр модели 130».

Помимо профилометров существуют также профилографы, которые позволяют не просто измерить, но и записать параметры шероховатого профиля в заранее выбранном масштабе.

Исследование поверхностней щуповым методом производится в несколько этапов: так, сначала профиль исследуемого объекта «ощупывается» несколько раз, а только затем, на основании серии измерений вычисляется усредненное значение параметра, характеризующегося как количественное выражение неровности относительно длины участка.

Профилограф — профилометр СЕЙТРОНИК-ПШ8-1

2) Оптический метод — это бесконтактный метод измерения шероховатости, который состоит из целой группы методов. Самые распространенные из них — это:

— метод светового свечения и теневой метод,

Итак, растровый метод предполагает следующую последовательность действий: на исследуемую поверхность кладется стеклянная пластинка, с нанесенной на неё растровой сеткой (т.е. системой равноудаленных параллельных линий), с маленьким шагом. Затем, на пластинку подаются световые лучи под наклоном. При падении световых лучей под наклоном в местах микроскопических неровностей, штрихи отраженной растровой сетки накладываются на штрихи реально нарисованной сетки, в результате чего возникают муаровые полосы, которые и свидетельствуют о наличии выступов или впадин на поверхности изучаемого объекта. При помощи растрового микроскопа и определяют параметры неровности. Точную методику определения параметров можно посмотреть в соответствующем ГОСТе. Отметим, что растровый метод применим для обследования поверхностей, следы неровностей на которых имеют преимущественно одинаковое направление (например, царапины в цилиндрах двигателей внутреннего сгорания).

Метод светового и теневого свечения — это наиболее часто применяемые методы измерения параметров неровностей. Метод светового свечения сводится к тому, что: световой поток от источника света, проходя сквозь узкую щель, превращается в тонкий, узкий пучок. Затем, при помощи объектива, он направляется на исследуемую поверхность под определенным углом. Отражаясь, луч опять проходит через объектив и формирует изображение щели в окуляре. При этом, абсолютно ровная поверхность будет иметь идеально прямой световой пучок (линия), а шероховатая поверхность — искривленный.

Теневой метод — это усовершенствованный и продолженный метод светового свечения. Состоит он в том, что: недалеко от изучаемой поверхности приспосабливается линейка со скошенным ребром. Пучок света преодолевает тоже самое расстояние, однако, будто ножом, срезается ребром линейки. При этом, на измеряемой поверхности можно наблюдать тень, верхняя часть которой в точности повторяет изучаемый профиль. При помощи микроскопа, такое изображение рассматривают, анализируют и делают выводы о параметрах и характере шероховатости.

Микроинтерференционный метод — реализуется при помощи специального измерительного прибора, который состоит из измерительного микроскопа и интерферометра. Используя интерферометр, получают интерференционную картину поверхности исследуемого объекта с искривлениями полос в местах неровностей. Параметры шероховатости измеряют, затем, при помощи микроскопа.

Также, следует выделить отдельно метод слепков, который применяется для оценки шероховатости различных труднодоступных поверхностей, а также поверхностей, обладающих сложным строением. Метод слепков, представляет собой снятие негативных копий поверхности при помощи воска, парафина или гипса, а также последующее их изучение щуповым или оптическим методом. Таким образом, метод слепков — это не самостоятельный метод, а лишь метод связанный с подготовкой к измерению. Он применим только совместно с одним из способов измерения шероховатости.

Источник

Бесконтактные средства измерения шероховатости

Для количественной оценки шероховатости поверхности бесконтактным методом в основном используют оптические средства измерения. При этом применяют в принципе два способа оценки поверхностных неровностей: получением увеличенного изображения неровности с помощью оптической системы или использованием отражательных способностей обработанной поверхности.

7.1.1. Приборы светового сечения принцип действия заключается в получении увеличенного изображения профиля измеряемой поверхности с помощью лучей, направленных наклонно к измеряемой поверхности и измерения высоты неровностей в получаемом изображении.

а) Двойной микроскоп — щель 3 (рисунок 7.1.1 а), освещенная с помощью конденсора 2 лампой /, проектируется микрообъективом 4 на поверхность измеряемой детали 5 (ширина щели 0,1, длина 7 мм). В тех местах, где на поверхности детали имеются неровности, изображение щели искривляется, образуя световое сечение профиля под углом к поверхности 5. Изображения щели в увеличенном виде рассматривается в микроскоп, состоящий из объектива 6 и винтового окулярного микроскопа 7. Величина искривления изображения щели Н пропорциональна высоте неровности h и связана с ней соотношением , где — увеличение микрообъектива; — угол наклона наблюдательного микроскопа.

Обычно оптические оси осветительного и наблюдательного микроскопов расположены под углом 45° к вертикали и тогда Значение H измеряют с помощью винтового окулярного микрометра. В двойных микроскопах (МИС-11) относительно небольшой диаметр поля зрения — от 0,3 до 1,8 мм в зависимости от используемых объективов. Прибор предназначен для измерения относительно больших неровностей от 0,8 до 63 мкм для нахождения критериев R: или Rmax.

Поверку двойных микроскопов в отношении точности производят с помощью, так называемой одноштриховой меры, которая представляет собой пластину с доведенной поверхностью, на которой нанесена риска V-образной формы. Поверка заключается в измерении прибором глубины риски на мере и сравнении полученного значения с аттестатом на меру.

б) Прибор теневого сечения — принцип действия прибора основан на измерении высоты неровности по искривлениям тени на неровностях. Свет от источника S (рисунок 7.1.1 б) освещает щель С, которая проектируется объективом О на измеряемую поверхность PP. К этой поверхности под углом 60° к оптической оси микроскопа прикладывается нож К. Тень, создаваемая ножом, искривляется на поверхностных неровностях и рассматривается в микроскоп О1О2

Приборы теневого сечения являются накладными и предназначены для измерения относительно больших поверхностных неровностей — от 0,04 до 1,6 мм. С помощью этих приборов обычно определяют параметры R- и Rmax.

Рисунок 7.1.1 – Схемы оптических приборов для измерения шероховатости: а – двойной микроскоп; б – прибор теневого сечения; в- микроинтерферометр МИИ-4

7.1.2. Микроинтерферометры называют интерферометры, предназначенные для измерения поверхностных неровностей. Принцип действия микроинтерферометра такой же, как и обычного интерферометра, и отличается только тем, что в качестве одной из поверхностей, которая создает интерференционную картину, используется измеряемая поверхность. Наиболее типичным является прибор МИИ-4 (рисунок 7.1.1 в)

Нить лампы 1 проектируется конденсором 2 в плоскость диафрагмы 3 (диаметр ее от 0,5 до 5 мм). Диафрагма, расположенная в передней фокальной плоскости проекционного объектива 4, изображается им в бесконечность. Параллельный пучок лучей на выходе из объектива 4 попадает на разделительную пластину 5, на одной из сторон которой нанесен полупрозрачный слой алюминия. Разделительная пластина 5 делит падающий на нее пучок света на два. Пучок, отраженный от пластины 5, попадает в объектив 7 и собирается в его фокусе на измеряемой поверхности. После отражения от этой поверхности пучок света идет в обратном направлении, проходит объектив 7, пластину 5 и собирается в фокальной плоскости объектива 10. Второй пучок света, пройдя разделительную пластину 5, попадает на пластину 6, объектив 8 и на зеркало 9. Отразившись от зеркала, пучок света идет в обратном направлении и, отразившись вновь от пластины 5, так же, как и лучи первой ветви, собирается в фокальной плоскости объектива 10. После разделительной пластины 5 лучи обеих ветвей интерферируют между собой, образуя резкое изображение интерференционных полос. Объектив 10 переносит изображение интерференционных полос в свою фокальную плоскость, которая рассматривается с помощью окуляра.

В поле зрения окуляра 15 видна измеряемая поверхность и интерференционные полосы, которые искривлены, если поверхность имеет неровность. Эта картина может быть сфотографирована, для чего зеркало 11 выключается, и лучи света, пройдя через окуляр 12 и отразившись от зеркала 13, попадают на поверхность матового стекла или фотопленки 14.

Величину неровности определяют по формуле

где а — величина искривления интерференционных полос;

b — ширина полосы.

При использовании белого света , значения а и b обычно

измеряют с помощью окулярного микрометра.

Диапазон измерения прибора находится в пределах от 0,03 до 1 мкм (МИИ-4) и оценивается по параметрам R. или Rmax.

Погрешность измерения в основном зависит от точности определения значений отношения а/Ъ. При измерении с помощью окулярного микрометра погрешность измерения составляет не более 0,015 мкм, при оценке этого соотношения «на глаз» погрешность измерения — не более 0,03 мкм.

Имеется еще несколько микроинтерферометров, отличающихся конструктивной схемой, а некоторые — и возможностями измерений. Так, для расширения диапазона измерений поверхностных неровностей изготовляют иммерсионно-репликовый интерферометр (МИИ-10). Принцип измерения относительно больших неровностей заключается в том, что с измеряемой поверхности снимают отпечаток — реплику, которую рассматривают потом с помощью интерферометра. Для получения отпечатка используют кинопленку (нитроцеллюлозную), которую смачивают ацетоном и прижимают к измеряемой поверхности. Полученный отпечаток помещают в камеру, заполненную жидкостью (иммерсионная жидкость), установленную в одну из ветвей микроинтерферометра, и измеряют неровность как на микроинтерферометре. На приборе с помощью реплик можно измерять поверхности любого коэффициента отражения. Диапазон измерения на приборе от 0,1 до 10 мкм.

Рассмотренные приборы не исчерпывают номенклатуры бесконтактных измерительных средств, основанных на оптическом принципе действия.

Источник

способ бесконтактного измерения параметров шероховатости поверхности

Изобретение относится к способам измерения параметров шероховатости поверхности бесконтактными методами, а именно путем анализа отраженного от измеряемой поверхности излучения. Заявленный способ бесконтактного измерения параметров шероховатости поверхности заключается в том, что задают максимальный размер L пятна на измеряемой поверхности, направляют на нее пучок зондирующего излучения, формируют пятно, измеряют характеристики отраженного излучения, по которым определяют среднее квадратическое значение шероховатости Rq. Кроме того, изменяют размер пятна х на измеряемой поверхности в диапазоне от 0 до L, определяют функцию зависимости Rq(x) и ее производную Rq’ x (x). Среднее арифметическое отклонение профиля поверхности Ra определяют по формуле: . Технический результат — расширение функциональных возможностей за счет одновременного бесконтактного измерения параметров шероховатости Rq и Ra. 1 ил.

Формула изобретения

Способ бесконтактного измерения параметров шероховатости поверхности, заключающийся в том, что задают максимальный размер L пятна на измеряемой поверхности, направляют на нее пучок зондирующего излучения, формируют пятно, измеряют характеристики отраженного излучения, по которым определяют среднее квадратическое значение шероховатости Rq, отличающийся тем, что изменяют размер пятна x на измеряемой поверхности в диапазоне от 0 до L, определяют функцию зависимости Rq(x) и ее производную Rq’ x (x), а среднее арифметическое отклонение профиля поверхности Ra определяют по формуле

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к способам измерения параметров шероховатости поверхности бесконтактными методами, а именно путем анализа отраженного от измеряемой поверхности излучения.

Известен бесконтактный фотометрический способ измерения высоты шероховатости поверхности непрозрачных объектов [Бесконтактный фотометрический способ измерения высоты шероховатости поверхности непрозрачных объектов. А.с. СССР № 654853, МКИ G01В 11/30, заявл. 25.01.77 г., опубл. 30.03.79 г., бюл. № 12], заключающийся в том, что облучают измеряемую поверхность образца монохроматическим пучком под углом относительно нормали к ней, не превышающим 10, и измеряют характеристики отраженного от этой поверхности излучения, при этом последовательно измеряют сигналы от полного и диффузного отраженных от поверхности образца полного и диффузного потоков и среднеквадратическую высоту шероховатости определяют по формуле

где — длина волны излучения, I d , I z — сигналы соответственно от диффузного и полного отраженных потоков, =3,1415.

Недостатком этого способа является то, что он не позволяет измерять основной параметр шероховатости Ra — среднее арифметическое отклонение профиля поверхности. Основным же параметром, характеризующим шероховатость поверхности по ГОСТ 25142-82 [ГОСТ 25142-82. Шероховатость поверхности. Термины и определения] и имеющим большое практическое значение, является именно параметр Ra.

Известен способ определения качества поверхности [Способ определения качества поверхности. Патент № 2217697, Россия, МКИ G01В 11/30.- заявл. 8.07.2002 г., опубл. 27.11.2003 г.], основанный на формировании монохроматического зондирующего светового пучка, подаче сформированного пучка на поверхность объекта для получения зеркальной и диффузной компонент отраженного от поверхности объекта светового излучения, преобразовании отраженных от поверхности объекта зеркальной и диффузной компонент светового излучения в фототоки путем их подачи для последующей обработки на устройство преобразования светового излучения в фототок. Перед подачей на поверхность объекта зондирующего светового пучка из последнего выделяют часть излучения для формирования опорного светового пучка, «вырезают» парные импульсы равной длительности из опорного пучка и отраженной от поверхности объекта диффузной составляющей и из опорного пучка и отраженной от поверхности объекта зеркальной составляющей, полученные импульсы попарно-поочередно-последовательно подают на устройство преобразования светового излучения в фототок, а качество поверхности объекта — параметр Rq — определяют по формуле.

Недостатком этого способа также является то, что он не позволяет измерять основной параметр шероховатости — Ra.

Известен способ измерения шероховатости сверхгладких поверхностей [Hildebrand B.P., Gordon R.L., Alien E.V. Instrument for measuring the Roughness of supersmooth surfaces. — Applied Optic, 1974, v.13, № 1, p.177-180], заключающийся в том, что освещают поверхность изделия под острым углом параллельным пучком монохроматического излучения, определяют интенсивность излучения, отраженного от поверхности в зеркальном направлении и в направлении, отличном от зеркального, и по отношению интенсивностей определяют среднеквадратическое отклонение высот неровностей — параметр Rq.

Недостатком этого способа также является то, что он не позволяет измерять основной параметр шероховатости — Ra.

Решаемой задачей является бесконтактное измерение параметра шероховатости Ra — среднего арифметического отклонения профиля поверхности.

Решение поставленной задачи достигается тем, что задают максимальный размер L пятна на измеряемой поверхности, направляют не нее пучок зондирующего излучения, формируют пятно, измеряют характеристики отраженного излучения, по которым определяют среднее квадратическое значение шероховатости Rq, кроме того, изменяют размера пятна х на измеряемой поверхности в диапазоне от 0 до L, определяют функцию зависимости Rq(x) и ее производную Rq’ x (x), а среднее арифметическое отклонение профиля поверхности Ra определяют по формуле:

Обоснование способа следующее. Установим соотношение между Ra и Rq в общем случае. Пусть профиль поверхности (сечение нормальной плоскостью) в системе средней линии описывается интегрируемой в квадрате функцией y=f(x), а длина оценки равна L (максимальный размер пятна на измеряемой поверхности равен длине оценки).

Согласно определению среднего арифметического отклонения профиля Ra [ГОСТ 25142-82. Шероховатость поверхности. Термины и определения. С.12] имеем:

Из определения среднего квадратического отклонения профиля Rq

Это выражение в силу действительности функции f (x) можно записать в виде:

В выражении (4) умножим обе части на L, а затем, рассматривая L как переменную, воспользуемся теоремой о дифференцируемости интеграла по верхнему пределу [Кудрявцев Л.Д. Курс математического анализа. Т.1. — М: Высшая школа, 1981, с.468] и продифференцируем обе части полученного выражения по L. В результате получим:

Подставляя (6) в (2), получаем выражение (1).

Из вышеизложенного следует, что связь между параметрами существует и для точного выражения одной величины через другую необходимо знать характер изменения величины последней и ее производной в области определения.

Предложенный способ реализуется следующим устройством. На фиг.1 представлена блок-схема предлагаемого устройства. Устройство содержит установленные на основании 1 и оптически связанные между собой источник излучения 2, модулятор 3, объектив 4, а также привод 5, первый фотоприемник 6, установленный под углом зеркального отражения, второй фотоприемник 7, установленный в плоскости падения осевого луча зондирующего пучка под углом диффузного отражения, первый 8 и второй 9 усилители, блок 10 оценки Rq, интерфейс 11, электронно-вычислительную машину (ЭВМ) 12 (с клавиатурой и монитором, которые на фиг.1 не показаны).

Блок 10 оценки Rq содержит блок 13 калибровки (например, усилитель с регулируемым коэффициентом усиления) и блок 14 определения отношения напряжений (например, аналого-цифровой преобразователь).

Модулятор 3 представляет собой кольцевую диафрагму, установленную на общей оптической оси, с излучателем 2 с датчиком ее положения (на фиг.1 не показан).

Блок 5 управления содержит привод (например, шаговый), связанный с кольцевой диафрагмой модулятора 3. Выход привода блока управления 5 подключен к модулятору 3, выход которого, являющийся выходом датчика положения диафрагмы, подключен к первому входу интерфейса 11. Первый выход интерфейса 11 подключен к входу привода 5.

Выход первого фотоприемника 6 подключен к входу первого усилителя 8, выход которого подключен к первому входу блока 10 оценки Rq. Выход второго фотоприемника 7 подключен к входу второго усилителя 9, выход которого подключен к второму входу блока 10 оценки Rq, к третьему входу которого подключен второй выход интерфейса 11.

Первый вход блока 10 оценки Rq является первым входом блока 14 определения отношения напряжений, к второму входу которого подключен выход блока 13 калибровки, а к третьему- второй выход интерфейса 11. Вход блока 13 калибровки является вторым входом блока 10 оценки Rq.

Выход блока 10 оценки Rq подключен к второму входу интерфейса 11.

Интерфейс связан с ЭВМ приемной и передающей шинами, по которым между ними производится обмен информационными сигналами.

Устройство работает следующим образом. Задается максимальный размер (диаметр) пятна L на контролируемой поверхности, равный длине оценки. Он задается максимальным размером открытой диафрагмы блока 3 модуляции и конструктивными параметрами оптической схемы.

В ЭВМ вводится программа управления приводом 5 в режимах калибровки и работы и программа обработки результатов измерения и определения Rq по отношению сигналов фотоприемников известным способом.

Для простоты реализации можно задать линейный закон изменения размера пятна во времени, однако рассмотрим более общий вариант.

До калибровки прибора коэффициент усиления блока 13 калибровки устанавливается равным единице. Сначала производится калибровка прибора по образцовой детали с известной величиной шероховатости Rq. Для этого к основанию 1 присоединяется образцовая деталь 15. С клавиатуры ЭВМ 12 задается режим калибровки. При этом команда с ЭВМ поступает на привод 5, который устанавливает диафрагму модулятора 3 в максимально открытое положение, соответствующее максимальному размеру пятна L. Поток излучения от излучателя 1 проходит через модулятор 2 с максимально открытой диафрагмой, объектив 3 и попадает на поверхность измеряемой детали 15, где формируется пятно заданного размера L.

Отраженное от измеряемой поверхности излучение попадает на фотоприемники 7, 8. Сигналы с фотоприемников 7, 8 после усиления соответственно усилителями 8, 9 поступают с последних на входы соответственно первый и второй блока 10 оценки Rq и, следовательно, на первый вход блока 14 определения отношения напряжений и вход блока 13 калибровки. Блок 13 калибровки усиливает сигнал и передает его на второй вход блока 14 определения отношения напряжений, который определяет отношение величины сигнала от фотоприемника 7, установленного под углом диффузного отражения, к величине сигнала фотоприемника 6, установленного под углом зеркального отражения.

При достижении заданного максимального размера пятна L с модулятора 3 поступает сигнал на интерфейс 11 и через него — в ЭВМ 12. По этому сигналу ЭВМ 12 через интерфейс 11 выдает сигнал разрешения записи данных с выхода блока 10 оценки Rq, и данные с выхода последнего через интерфейс 11 поступают в ЭВМ 12. После обработки по заданной программе полученный результат измерения Rq по отношению сигналов индицируется на мониторе и сравнивается с фактическим. При наличии расхождения изменяют коэффициент усиления блока 13 калибровки и проводят следующее измерение Rq до совпадения результата измерения с фактическим значением.

После этого переводят устройство в режим работы. В этом режиме по команде с ЭВМ 12, поступающей через интерфейс 11 на привод 5, последний закрывает диафрагму модулятора 3. При переходе в рабочий режим, устанавливаемый с клавиатуры ЭВМ 12, образцовая деталь заменяется на измеряемую, ЭВМ 12 через интерфейс 11 выдает сигнал на привод 5, по которому последний закрывает диафрагму модулятора 3. Пока команды на измерение не поступило, интерфейс не вводит данные с блока 10 оценки Rq.

При поступлении команды измерения (с клавиатуры) ЭВМ 12 через интерфейс 11 по заданной программе изменяется размер пятна путем открытия приводом 5 диафрагмы модулятора 3. Отраженное от измеряемой поверхности излучение попадает на фотоприемники 6, 7, где преобразуется в электрические сигналы, которые после усиления соответственно усилителями 8, 9 поступают на входы соответственно первый и второй блока 10 оценки Rq. Данные с блока 10 оценки Rq поступают через интерфейс 11 в ЭВМ 12 одновременно с данными датчика положения диафрагмы модулятора 3, где по заданной программе производится определение Rq(x), Rq'(x), где x — размер пятна в момент измерения. По достижении размера пятна заданной величины L, что достигается при максимальном открытии диафрагмы модулятора 3, информация об этом с выхода модулятора 3 поступает через интерфейс 11 в ЭВМ 12, которая выдает через интерфейс 11 команду на прекращение ввода данных с блока 10 оценки Rq и возврат привода 5 в исходное положение. В ЭВМ 12 производится вычисление параметра Ra по формуле (1). При этом в памяти ЭВМ 12 будут записаны результат измерения Rq=Rq(L) и величина Ra, определенная по формуле (1), которые выводятся на монитор ЭВМ 12.

Техническим результатом является расширение функциональных возможностей за счет одновременного бесконтактного измерения параметров шероховатости Rq и Ra.

Источник

Поделиться с друзьями
Моя стройка
Adblock
detector
Классы МПК: G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения
Патентообладатель(и): Миронченко Владимир Ильич (RU)
Приоритеты: