Меню

Оборудование для измерения физических свойств



Приборы для измерения физических свойств жидкостей. Устройство и принцип действия.

Классификация и типы приводов технологического оборудования. Достоинства и недостатки.

Приводом называется совокупность механизмов, передающих движение от источника движения до элемента, выполняющего заданное движение. Привод состоит из трех частей: двигателя; передачи, связывающей двигатели и рабочий орган; системы управления. Приводы выполняют определенные функции: 1.Преобразование какого-либо вида энергии в механическую (силовые приводы); 2.Управление (сервоприводы). По виллу энергии приводы делят: 1.Электропривод – это привод, в котором источником механических движений в оборудовании является электродвигатель («+»: а)Высокий КПД – 98%; б)Удобство получения механических движений непосредственно из электроэнергии; в)Удобство подвода энергии к оборудованию; г)Система управления приводом не требует преобразования энергии управления в другие виды энергии; д)Выбор электродвигателя любой мощности, регулируемого или нерегулируемого, работающего от постоянного или переменного тока. «-»: высокая инерционность). 2.Гидропривод – это привод, в котором для получения механического движения применяется энергия движения жидкости. Жидкость нагнетается насосными установками («+»: а)Компактность; б)Простота бесступенчатого регулирования скорости движения; в)Малая инерционность; г)Простота защиты от перегрузок; д)хорошая смазываемость системы. «-»: а)Низкий КПД – 96%; б)Сложная конструкция; в)Огнеопасность; г)Загрязнение окружающей среды). 3.Пневмопривод – это привод, в котором энергия сжатого воздуха или газа преобразуется в механическую. Сжатый воздух нагнетается компрессорными установками («+»: а)Простота конструкции пневмодвигателя; б)Высокое быстродействие; в)Дешевизна рабочей среды; г)Работа в широком диапазоне температур; д)Возможность сбрасывания отработанного воздуха назад в атмосферу. «-»: а)Низкий КПД – 92%; б)Отсутствие плавности в работе; в)Получение небольших усилий). 4.Комбинированные – это совмещение гидро- и пневмоприводов, что позволяет увеличить силу зажима и обеспечить плавность работы.

Условное обозначение элементов гидравлических и пневматических схем.

Физические свойства жидкостей. Определение, расчетные формулы и единицы измерения.

1.Плотность ρ=γ/g — удельный вес на ускорение свободного падения. Плотность измеряется гр/см 3 кг/см 3 . 2.Температурное расширение – это явление увеличения объема жидкости при увеличении температуры. Характеризуется коэффициентом объемного расширения, который показывает изменение объема при повышении температуры на один Кельвин. α=∆W/(W1∆t), где ∆W – изменение объема жидкости; W1 – первоначальный объем; ∆t – приращение температуры. 3.Сжимаемость жидкости – свойство жидкости изменять свой объем под действием давления. Характеризуется коэффициентом объемного сжатия, который показывает изменение объема при росте давления на одну единицу. Β=∆W/(∆W1∆P). где ∆P – приращение давления. 4.Модуль упругости – величина, обратная коэффициенту объемного сжатия. Е=1/β. 5.Вязкость – это способность жидкости сопротивляться сдвигу ее слоев относительно движения. Вязкость характеризуется коэффициентом динамической вязкости (μ, Н·с/м 2 ) и кинематической вязкости ν (Ст или сСт (стоксы)). В расчетах используется только кинематическая вязкость, замеренная при 50 0 С. 6.Темапература вспышки – это параметр, характеризующий огнестойкость масла. 7.Температура воспламенения – это показатель, характеризующий пожаробезопасность рабочей жидкости. 8.Температура застывания – пригодность рабочей жидкости для работы при пониженной температуры. 9.Кавитация – явление, характеризующее возникновение в жидкости пузырьков газа в областях с пониженным давлением с последующим их разрушением в областях повышенного давления, сопровождающиеся гидравлическими ударами. Скорость распространения ударной волны .

Приборы для измерения физических свойств жидкостей. Устройство и принцип действия.

В качестве приборов для измерения физических свойств жидкости используются: 1.Ареометры – определяют плотность жидкости. Представляют собой стеклянный корпус с находящейся внутри металлической дробью. Имеется градуированная шкала, по которой значение плотности определяется сверху вниз. Капиллярные вискозиметры – для определения вязкости рабочей жидкости. Изготавливают из прозрачного стекла с малым коэффициентом расширения и закрепляют на штативе. Масло предварительно заливают в сборник и вискозиметр помещают в термостат для подогрева или охлаждения до нужной температуры. Затем на открытый конец трубки надевают резиновый шланг и помощью резиновой груши всасывают масло из сборника до уровня выше отметки а на одну треть расширения трубки. После этого отсоединяют шланг и масло под действием силы тяжести вытекает из расширения через капиллярную трубку. При этом измеряют время t опускания уровня масла от отметки а до отметки b, а затем определяют кинематическую вязкость масла ν=Сt, где С – постоянная вискозиметра.

Дата добавления: 2019-02-12 ; просмотров: 685 ; Мы поможем в написании вашей работы!

Источник

МИСиС

Полностью автоматизированный СЗМ:
— позволяет производить автоматическую настройку прибора перед началом измерений;
Высокоскоростной 100 мкм сканер:
— (резонансные частоты сканера больше, чем 7 кГц по XY и 15 кГц по Z), емкостные датчики, обеспечивающие высокую линейность и точное позиционирование;
Регистрирующая система с ИК лазером:
— с длиной волны 1300 нм позволяет измерять широкий диапазон образцов с высоким разрешением, включая образцы чувствительные к видимому свету. С таким лазером пользователь может проводить измерения флуоресценции или рамановского излучения одновременно с АСМ сканированием без перекрестных помех;

Улучшенный контроль обратной связи:
— с активным устранением отставания по фазе по XY, перескоков и &laquoзвона&raquo сканера при быстром сканировании без динамического искажения изображения;
Режим True Non-contact — и специальная процедура для безопасного подвода зонда к образцу;
Цифровой модульный контроллер — с быстрым DSP, USB интерфейсом и возможностью расширения функциональности.

&#9658 Встроенный макроязык для программирования DSP позволяет создавать собственные алгоритмы сканирования, снятия силовых кривых, а также процедуры нанолитографии.

Предназначен для измерения энергии сгорания образцов.
Рабочая температура калориметра 32 ±1 °C;
Диапазон измеряемой теплоты 103 … 104 Дж;
Предел допускаемой основной относительной погрешности при измерении количества теплоты ±0,2 %;
Объем калориметрической бомбы 157 см 3 ;
Максимальное рабочее давление в бомбе до 39•10 5 Па

Заказ работ временно недоступен

Заказ работ временно недоступен

Автоматизированный микроскоп типа «Axio Imager M1m» с техническими характеристиками не хуже: – увеличение не менее 50х; – апертура не менее 0,8. Видеокамера типа «uEye UI – 146x» с техническими характеристиками не хуже: — увеличение не менее 10х. Технические возможности прибора: – исследование материалов на отражение света; – исследование материалов на просвет; – исследование материалов в поляризованном свете. Постоянная микроскопа – постоянная Малляра для данной системы: К=0,006 «. Общее увелич. от 50 до 1000х, 7 объективов, проходящий, отражённый свет.

JEM-2100 — аналитический электронный микроскоп, включающий в себя базовый просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) для получения электронно-микроскопических изображений и электронограмм, систему компьютерного управления, в которую интегрировано устройство наблюдения изображения в режиме просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (JED-2300).
Разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом). Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.

Высокая стабильность высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной электронно-оптической системой, позволяет получать разрешение 0,19 нм (по точкам) при 200 кВ (с LaB6 катодом).
Новая конструкция шасси колонны существенно снижает влияние вибраций на прибор.
Аналитический электронный микроскоп: В энергодисперсионной системе микроанализа применен новый детектор, сконструированный для работы при телесном угле сбора 0,28 стерад и угле сбора 24.1°, что позволяет производить высоко точный анализ и быстрый набор данных микроанализа.
Столик образцов: Столик образцов (гониометрический) дает возможность осуществлять точное перемещение образца в нанометровой шкале.

Ускоряющее напряжение – от 0,3 до 30 кэВ;
Разрешение в режиме с низким вакуумом – 4,0 нм;
Разрешение в режиме с высоким вакуумом — 3,0 нм;
Увеличение в режиме с низким вакуумом — От 5 до 300 000;
Увеличение в режиме с высоким вакуумом от 5 до 300 000.

Многоцелевой сканирующий (растровый) микроскоп JSM-6480LV сочетает в себе возможности работы как в стандартном, так и в LV режимах.
Низковакуумный режим работы позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов.
Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности:
— спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава;
— детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).

Два источника рентгеновского излучения: 2.2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора;
— кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y — 150 мм с точностью &#177 5мкм; по оси Z – 12 мм и &#177 5мкм, соответственно;
— точность перемещения по осям &#969 и 2&#952 — 0,055 угл. с;
— компьютери-зированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора;
— возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца;
— детектор с большим динамическим диапазоном (107);
— наличие компьютерной системы управления прибором удаленно через Интернет и высокая стабильность по времени позволяют использовать D1System 24 часа в сутки.

На приборах возможна работа со следующими рентгенодифракционными методами:
— дифракция высокого разрешения для исследования гетероэпитаксиальных структур;
— трехкристальная рентгеновская дифрактометрия для исследования гетероэпитаксиальных структур, кластеров точечных дефектов в объемных кристаллах;
— рентгеновская рефлектометрия для определения состава слоев и гладкости межслойных границ;
— рентгеновская дифракция в низком разрешении (качественный фазовый анализ порошков, построение полюсных фигур для анализа текстуры поликристаллов и поликристаллических пленок).

Микроскоп MFP 3DStand Аlone позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наномасштабе.
Основные характеристики XY сканера:
Область сканирования: 90 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
Размер образцов: до 8,6х3,8 см, что позволяет использовать стандартные предметные и покровные стекла;
Уровень шума: не более 0,5 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц);
Нелинейность: не более 0,5% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи).
Основные характеристики Z сканера
Диапазон перемещения: 15 мкм (в режиме замкнутой обратной связи);
Высота образцов: до 10 мм
Уровень шума датчиков: не более 0,25 нм (в режиме замкнутой обратной связи) (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 кГц);
Нелинейность: не более 0,05% на полном скане (в режиме замкнутой обратной связи);
Уровень шума сканнера: не более 60 пм (вариация Аллана на полосе 0,1Гц – 1 КГц)

Возможность готовить ультратонкие пробы (толщиной до 50 нм) для просвечивающего электронного микроскопа на локальных участках образца. Модификация и восстановление микросхем.
Гарантированный минимальный размер канавки травления 100нм, минимально достигаемый – 10 нм&#178.
Ионная пушка — галлиевая жидкометаллическая. Изменение размеров ионного пучка в пределах 5-500 нм с автоматической запрограм-мированной сменой апертур (не менее 10 ступеней).
Диапазон изменения тока ионного пучка: 1-10нА, плотность тока до 50А/см&#178 , нестабильность пучка менее 5%/час .
Вакуум в исследовательской камере

1,3•10 -6 мбар после 24-х часовой откачки. Вакуум в камере ионной пушки -7 мбар.
Время откачки исследовательской камеры

210 сек до 10 -4 мбар.
Максимальные размеры образца: диаметр 80 мм или площадь 55 мм&#178, высота до 25 мм, вес до 150 г.
5 степеней свободы стола-держателя (X, Y±25 мм, Z 25мм, поворот 3600, наклон -10 +450).
Источники для осаждения платины и ионно-стимулированного травления диэлектриков.

Источник

Читайте также:  Как измерить объем ноги у щиколотки

Сравнить или измерить © 2021
Внимание! Информация, опубликованная на сайте, носит исключительно ознакомительный характер и не является рекомендацией к применению.

Фото Наименование Подразделение Назначение Технические характеристики Проведение измерений, испытаний, исследований
Автоматический анализатор серы и углерода Leco CS-230IH Научно-образовательный центр «Инновационные металлургические технологии» Оборудование для исследования с использованием хроматографических методов анализа Определение содержания серы и углерода.
Диапазон определения, %:
1) углерода 0,0004-3,5; 2) серы 0,0004-0,4. П
отребляемые газы Газоноситель:
Кислород 99.6% 40 psi (2.76 атм).
Пневматика: cжатый воздух, азот или аргон.
Заказать работу
Анализатор портативный Mettler Toledo MX-300 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Для измерения рН, удельной электрической проводимости (УЭП), концентрации растворенного кислорода, концентрации ионов в различных жидких средах с одновременным измерением температуры для применения в фармацевтической, пищевой, химической, металлургической и других отраслях промышленности. Заказать работу
Анализатор теплопроводности Netzsch LFA 447 NanoFlash Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов Температурный диапазон: комнатная до 300 °C
Диапазон температуропроводности: от 0,01 до 1000 мм 2 /с
Диапазон теплопроводности: от 0,1 до 2000 Вт/(м•К)
Заказать работу
Анализатор углерода и серы в органических материалах SC-144DR НУИЛ «Физико-химия угля» Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее — рабочие диапазоны при навеске 350 мг:
сера 5 ppm или от 0,0005 % до 26 %, углерод 50 ppm или 0,0050 % до 100 %;
— точность: сера 1 %, углерод 1 %;
— чувствительность 1 ppm;
— калибровка по одной точке или по нескольким точкам (линейная, квадратичная или кубическая)
— время анализа 90 секунд
— метод детектирования — инфракрасная абсорбция
— температура печи 400. 1450 °С, 1350 °C — номинальная температура.
Заказать работу
Анализатор углерода, водорода и азота TruSpec CHN micro НУИЛ «Физико-химия угля» Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее — система автоподачи проб на 30 ячеек;
— продолжительность одного измерения не более 5 минут.
Углерод:
— диапазон измерений 0,002?100% с точностью не выше 0,001% или 1% от среднего результата;
— тип датчика: ИК-ячейка.
Водород:
— диапазон измерений 0,02?50% с точностью не выше 0,01% или 1% от среднего результата;
— тип датчика: ИК-ячейка.
Азот:
— диапазон измерений 0,02?50% с точностью не выше 0,01% или 1% от среднего результата;
тип датчика: ячейка теплопроводности.
Заказать работу
Анализатор удельной поверхности и пористости Quantachrome Nova 1200e Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие Диапазон измеряемых площадей: 0,01 &divide свыше 2000 м 2 /г
Снятие изотерм адсорбции и десорбции
Диапазон диаметров пор: 3,5 &divide 2000
Заказать работу
Аналитический исследовательский комплекс ARL 9900 X-Ray WorkStation Межотраслевой учебно-научный центр по утилизации химических источников тока Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Комплексная лаборатория в одном приборе: XRF + XRD
Анализ элементов от B до U (от ppm до 100%)
Высокая степень автоматизации и цифрового контроля
Возможность как рутинного, так и бесстандартного анализа
Выбор параметров генератора в зависимости от поставленной задачи: 1200 Вт, 2500 Вт, 3600 Вт, 4200 Вт Rh анод трубки
Заказать работу
Атомно-силовой сканирующий зондовый микроскоп AIST-NT SmartSPM-1000 Учебно-научный центр «Международная школа микроскопии» Приборы для микроскопических исследований Заказать работу
Блок фотометрического титрования к комплекту Титрион-1 НУИЛ «Физико-химия угля» Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее — фотометрическая ячейка, под стандартный стеклянный стакан, вместимостью 50 см3;
— встроенная магнитная мешалка;
— метод титрования – фотометрический;
— рабочие длины волн 375, 400, 430, 470, 505, 525, 572, 590, 605, 615, 626, 655, 700, 850, 880, 940 нм.
Заказать работу
Быстордействующий бомбовый калориметр сжигания БКС-2х Кафедра порошковой металлургии и функциональных покрытий Изучение и измерение свойств веществ и материалов Заказать работу
Визкозиметр Rheomat RM100 Научно-исследовательский центр композиционных материалов Оборудование для реализации физико-химических и химических процессов Универсальный ротационный вискозиметр с высокоточной измерительной системой, построенной без использования пружин.
Скорости вращения: 34 скорости.
Диапазон крутящего момента: от 0.05 до 30 мН•м.
Температура: от -20 до 120°C.
Диапазон измерения вязкости:от 1 мПа•с до 510 M мПа•с
Заказать работу
Вискозиметр Brookfield DV3T 5НВ Научно-исследовательский центр «Термохимия материалов» Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения вязкости жидкости;
— диапазон измерений – 4 Па*с – 1,6*10^6 Па*с.
Заказать работу
Вискозиметр Brookfield DV3T LV Научно-исследовательский центр «Термохимия материалов» Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Предназначен для определения вязкости жидкости;
— диапазон измерений – 0,001 Па*с – 6000 Па*с.
Заказать работу
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL OPTIM’X Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Спектрометр позволяет с высокой точностью провести элементный анализ в диапазоне от F до U твердых, порошковых и жидких проб.
Модель для определения элементов от F до U в твердых, порошковых и жидких пробах. В комплект спектрометра входят:
• Рентгеновская трубка мощностью 50 Вт с Rh мишенью и окном толщиной 75 мкм;
• Источник питания 50 Вт на максимальное напряжение 50 кВ или максимальный ток 2 мА;
• Гониометр SmartGonio: Фиксированный коллиматор (среднее угловое расхождение) Держатель кристаллов с 3 установленными кристаллами: AX-06, PET и LiF200 2 детектора: проточно-пропорциональный и сцинтилляционный.
Заказать работу
ИК Фурье спектрометр IFS 66v/S Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии Позволяет осуществлять съемку спектров пропускания и поглощения в диапазоне частот от 20 до 40000 см-1, а также рамановских спектров в диапазоне частот от 50 до 3500 см-1. Разрешение: выше 0.25 см-1 Электрическое напряжение: 120±12 В или 230±11.5 В, 50/60 Гц. Интерферометр: интерферометр Майкельсона с высоким выходом и автоматической центровкой. Источники: SiC глобар (стандарт), водоохлаждаемый; FIR, NIR и UV_VIS. Вакуум: менее 3 мбар внутри оптической системы.
Комплекс оборудования ТеТеМ для послеростовой подготовки поверхности (фемтосекундная система; установка плазмохимической обработки) ЦКП «Материаловедение и металлургия» Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие В комплекс оборудования для послеростовой подготовки поверхности входят:
1. Фемтосекундная система ООО «Авеста» (Россия)
Предназначена для импульсного воздействия на образцы световым излучением высокой интенсивности (1010 и более Вт/см2) с целью структурной модификации материала, возбуждения электронной подсистемы, в том числе за счет реализации режима многофотонного поглощения, а также для ассистирования процесса роста тонких пленок методом высокочастотного магнетронного распыления.
Технические характеристики:
Длины волн излучения: 800 нм, 400 нм и 267 нм
Частота повторения до 1 кГц
Энергия импульса на первой гармонике >3,5 мДж
Длительность импульса -3 . Источник плазмы состоит из трех взаимосвязанных устройств: реактор, ВЧ генератор и газовая система. Газовая система состоит из двух независимых каналов для подачи в зону реакции смеси газа-носителя и рабочего газа-прекурсора. В состав каждого канала входит полный комплект газовых элементов, необходимых для регулирования, управления и контроля газового потока. Подключение дополнительного высокочастотного генератора (и согласующего устройства соответственно) к подложкодержателю, не соединенного с корпусом установки, позволяет независимо от основного источника разряда корректировать энергию ионов.
Лазерный анализатор размеров частиц Fritsch Analysette-22 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Лазерный дифракционный анализатор распределения частиц по размерам в диапазоне 0,01 — 2000 мкм Заказать работу
Лазерный анализатор частиц MicroSizer 201C Кафедра цветных металлов и золота Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие • Диапазон размеров частиц: 0,2-600 мкм;
• Источник излучения: He-Ne лазер с мощностью излучения не менее 1.5 мВт и длинной волны излучения 0.63 мкм;
• Детектор: Фотодиодная матрица;
• Количество каналов регистрации: 38;
•Объем камеры для образца: 120 мл;
• Частота ультразвукового излучения: 50 кГц;
• Мощность ультразвукового излучения: до 200 Вт
• Объем пробы до 150 мл;
• Возможность регулировки мощности ультразвука: от 50 до 200 Вт.
Заказать работу
Масспектрометр QMS 403 CF Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Технические характеристики QMS 403 СF:
— Диапазон массовых чисел: 1 а.е.м. . 300 а.е.м.;
— Ионный источник: электронный удар, энергия 100 эB;
— 2 Y2O3 -катоды с иридиевым покрытием;
— Датчик: Фарадея и SEV (Канальный электронный умножитель);
— Вакуумная система: турбомолекулярный и диафрагменный насосы;
— Кварцевый капилляр, диаметром 75 мкм, в металлической трубке;
— Регулятор нагрева, капилляр, система напуска газа и МС работают до 300°C;
— Система удаления газа из печи анализатора;
— Ионный источник (высокая чувствительность, высокий эксплуатационный ресурс)
Заказать работу
Машина испытательная разрывная Instron 150 LX Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для определения механических свойств и величин — Максимальное усилие 15 тонн;
— Максимальная скорость деформирования 228 мм/мин;
— Наличие различных датчиков деформации: видео- и навесного экстензометра, объемной деформации;
— Захваты для плоских и цилиндрических образцов;
— Наличие программного обеспечения.
Заказать работу
Металлографический оптический микроскоп Carl Zeiss AxioLab с программным обеспечением Tixomet НИЛ «Гибридные наноструктурные материалы» Приборы для микроскопических исследований Общее увеличение микроскопа: х50 — х1000
Увеличение объективов: х5; х10; х20; х40; х50; х100
Увеличение окуляров и поле зрения: PL х10/20 Br и PL х10/22 Br
Доступные методы контраста: светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг. ДИК, флуоресценция.
Заказать работу
Микроскоп «Axio Imager» M1m, Carl Zeiss МУИЛ п/п материалов и диэлектриков «Монокристаллы и заготовки на их основе» Приборы для микроскопических исследований Заказать работу
Микроскоп Axio Imager A1 Кафедра цветных металлов и золота Приборы для микроскопических исследований Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), поляризация, люминесценция;
Окуляры: 10 х/20; 10 х/23; 16 х/16;
Револьверное устройство для крепления 6 или 7 объективов;
Насадки бинокулярная, бинокулярная насадка с фото / видеовыходом; угол наклона окулярных трубок — 30 , 20 (с возможностью перемещения на 55 мм), 15 (эргономическая насадка)
Предметный столик: координатный; поворотный (240); вращающийся (360); сканирующий; нагревательный, право – или левостороннее управление
Заказать работу
Микроскоп инвертированный металлографический Carl Zeiss AXIOVERT 40 MAT Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы для микроскопических исследований Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM Заказать работу
Микроскоп металлографический AXIOSCOP 40 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Приборы для микроскопических исследований Работа в отраженном свете, поляризованный свет, темное и светлое поле, подключен к компьютеру, софт по DIN и ASTM. Заказать работу
Микроскоп металлографический METAM PB-22 НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Приборы для микроскопических исследований Увеличение микроскопа от 50 до 1000; Цена деления шкал: предметного столика 1мм, нониуса механизма 0,1мм, микрометрической фокусировки 0,002м; Максимальная нагрузка 1 кг; Источник света — Лампа накаливания РН8-20-1 Заказать работу
Микроскоп металлографический Neophot-32 НУЦ СВС МИСиС-ИСМАН Приборы для микроскопических исследований Увеличение микроскопа, крат: от 10 до 2000,
Диапазон вращения столика, град.: от 0 до 360,
Размеры фотопластинок, см: 9 х 12, 13 х 18,
Размер кадра фотопленки, мм: 24 х 36,
Источники света: галогенная лампа 12В – 100Вт,
Ксеноновая лампа ХВО 101.
Заказать работу
Микроскоп металлографический оптический AxioScope (с программным обеспечением Tixomet) НИЛ «Гибридные наноструктурные материалы» Приборы для микроскопических исследований Общее увеличение микроскопа: х12,5 — х1000
Увеличение объективов: х1,25, х2,5, х5, х10, х20, х40, х50, х63 и х100
Увеличение окуляров и поле зрения: W-PL х10/23 мм
Доступные методы контраста светлое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг./Plas ДИК, флуоресценция.
Программное обеспечение Tixomet
Заказать работу
Микроскоп модульный ВХ51 НУИЛ «Физико-химия угля» Приборы для микроскопических исследований — микроскоп проходящего/отраженного света;
— общее увеличение х75-х1500;
— объективы для работы в воздушной и иммерсионных (водной и масляной) средах;
— поворотный столик (360°), поляризаторы для отраженного/проходящего света и поворотный анализатор для работы в поляризационном свете;
— тринокулярный тубус трехпозиционный (100 % окуляры — 50/50 % окуляры/камера — 100 % камера);
— комплекс для автоматического петрографического анализа «Lucia Vitrinit», предназначенный для измерения произвольного и максимального/минимального показателя отражения, петрографического анализа углей, пористости и толщины стенок кокса.
Заказать работу
Микроскоп просвечивающий электронный JEOL JEM-2100 ЦКП «Материаловедение и металлургия» Приборы для микроскопических исследований Заказать работу
Микроскоп растровый электронный низковакуумный JSM-6480LV ЦКП «Материаловедение и металлургия» Приборы для микроскопических исследований Заказать работу
Многоцелевой автоматизированный рентгеновский дифрактометр Bede D1 System ЦКП «Материаловедение и металлургия» Оборудование для исследования строения вещества дифракционными методами Заказать работу
Мультигазоанализатор МХ2100 Кафедра техносферной безопасности Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Газоанализатор МХ 2100 предназначен для работы при следующих условиях эксплуатации:

-температура окружающей среды – от — 20 + 40 0С.

-относительная влажность воздуха – от 15 до 98 %.

-запыленность анализируемой среды – не более 1 г/м3.

-атмосферное давление – от 90 – 110 кПа
;
-изменение пространственного положения относительно вертикального – до 90 град.

Диапазоны измерений и пределы допускаемой погрешности:

Определяемый компонент / Диапазон измерений / Пределы допускаемых пределов основной погрешности, %
. приведенной. относительной
Кислород О2. 0 — 5 % об.д. ± 5. 5 — 30% об.д. ± 5

Оксид углерода СО. 0 — 1000 ррм . ± 10
Диоксид углерода СО2. 0 — 5 %. ± 5
Метан СН4. 0 — 2,5 % об.д. ± 10. 2,5 – 5 % об.д. ± 10

Предельные углеводороды. 0 – 50 %НКПР. ± 10. 50 – 100 % НКПР. ± 10

Заказать работу
Оже-спектрометр электронный PHI 680 Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Метод электронной Оже-спектроскопии:
Исследование элементного состава твердофазных материалов методом электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) основано на анализе энергетического распределения Оже-электронов, эмитированных с поверхности вещества в вакууме при его возбуждении электронным пучком.

Информативность метода
— идентификация всех химических элементов, кроме водорода и гелия,
— полуколичественный анализ,
— определение химического состояния элемента,
— высокая локальность

10 нм,
— глубина анализа от 5 до 50 A,
— чувствительность метода – 1-3 ат.%
Технические возможности установки определяются уникальным сочетанием высокодисперсионного цилиндрического анализатора с системой электростатических линз, ограничивающих область анализа, многоканального детектора Оже-электронов, уникального источника электронов. Ионная пушка с дифференциальной откачкой, встроенная в камеру анализа, позволяет очищать поверхности образцов от адсорбированных на воздухе примесей, а также осуществлять ионное травление образцов на глубину порядка 1 мкм. Низкое давление остаточных газов в камере анализа обеспечивается работой ионных насосов с высокой скоростью откачки, а также системой загрузки образца, предусматривающей предварительную его откачку в специальной камере и ввод образца в тестовую камеру без заметного повышения давления. Наличие устройства для скола образцов позволяет получать атомарно чистые поверхности в сверхвысоком вакууме.

Заказать работу
Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп JSM-6700F с приставкой энергодисперсионного микроанализатора JED-2300F фирмы «JEOl» ЦКП «Материаловедение и металлургия» Приборы для микроскопических исследований Источник первичных электронов – холодноэмиссионная полевая пушка.
Разрешение:
— 3.5 nm при 15 кВ;
— 0,22 нм при 1 кВ.
Ускоряющее напряжение – 0,5-30 кВ.
Максимальный размер образца 200х200 мм, устойчивое сверхвысокое разрешение по всей площади объекта.
Рабочее расстояние – 1,5-25 мм.
Вакуум в:
— области источника 10 -8 Па
— в камере 10 -5 Па
Разрешение EDS – 133 эВ.
Анализируемые элементы от B до U (количественный анализ).

Высокое разрешение и высокое качество изображения позволяют проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур благодаря электронной пушке с холодным катодом, сверхвысокому вакууму и усовершенствованным цифровым технологиям. Приставка для энергодисперсионной спектрометрии JED-2300F позволяет осуществлять качественный и количественный анализ состава твердотельных структур с использованием метода энергодисперсионной спектрометрии. Использование программного обеспечения «Analysis Station» в операционной системе WINDOWS XP предполагает два варианта количественного анализа:
1 Функция «Дифференциальный фильтр + Метод наименьших квадратов + ZAF метод» использует справочные спектры элементов,
2 Функция «QBase» выполняет анализ, используя стандартные спектры минералов.

Заказать работу
Прибор для измерения вязкости AND SV-100 Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследования и определения физических свойств среды Назначение и область применения
AND SV-100 — это вибрационный вискозиметр, который обеспечивают широкий диапазон, высокую точность и оперативность измерений. Область применения — измерение динамической вязкости различных жидких сред в реальном масштабе времени при проведении научных исследований, а также на предприятиях химической, нефтеперерабатывающей, пищевой, фармацевтической парфюмерной и других отраслей промышленности.
Принцип действия:
Измерения вязкости проводятся с помощью метода камертонной вибрации. За основу измерений берётся величина электрического тока, необходимая для того, чтобы поддерживать постоянную амплитуду вибрации сенсорных пластин вискозиметра в жидкой среде. Подобный метод позволяет проводить измерения в режиме реального времени с отслеживанием изменений вязкости и температуры образца, что и обеспечивает широкие функциональные возможности данных приборов. Метод измерения : метод камертонной вибрации; Частота вибрации сенсорных пластин 30 Гц; Диапазон измерения 1 – 100 Па•c; Точность измерения вязкости ±5% (1000 – 100 000 мПа•c); Единица измерения вязкости Па•c, П; Повторяемость 1%
Минимальный размер пробы 35 мл
Измерение температуры 0 — 160°С (шаг 0,1°С)
Точность измерения температуры 0-20°С: ±1°С
20-30°С: ±0,5°С
30-100°С: ±2°С
100-160°С: ±4°С
Габаритные размеры, мм Основное устройство: 332 х 314 х 536
Выносной дисплей: 238 х 132 х 120
Масса прибора, кг, не более Основное устройство: 5
Выносной дисплей: 1,3
Тип дисплея Вакуумно-флуоресцентный
Стандартный комплект поставки адаптер, диск с ПО, 4 чашки для образцов AX-SV-33,
кабель RS-232C (25 pin-9 pin)
Интерфейс Cтандартный RS-232C
Источник электрического питания От сети 220 В, через адаптер
Диапазон рабочих температур, °С от +10 до +40
Заказать работу
Прибор синхронного термического анализа STA449 F1 Jupiter Научно-исследовательская лаборатория «Неорганические наноматериалы» Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее • На данном приборе можно быстро и всесторонне проанализировать термостойкость образца, реакции разложения, состав, фазовые переходы, процессы плавления материалов
• Легкая в использовании система вертикальной загрузки образцов, исключительно точное разрешение весов (разрешение 25 нг в диапазоне взвешивания 5г)
• Взаимозаменяемые сенсоры для ДСК измерений с самой высокой чувствительностью и воспроизводимостью как для температур реакции/перехода и энтальпий, так и для теплоемкости.
• Различные печи, легко взаимозаменяемые пользователем (дополнительное самоориентирующееся двойное спускоподъемное устройство для двух печей)
• Съемные держатели образцов (ТГ, ТГ-ДСК, ТГ-ДТА, и.т.д.)
• Автоматическое загрузочное устройство на 20 образцов
• Функция Autovac: автоматическая откачка газа и автозаполнение газом
• Множество различных принадлежностей, например, тигли различного размера, формы и выполенииые из различных метериалов
• Уникальная возможность для СТА: температурно-модулированное ДСК (TM-ДСК)»
Температура нагрева до 1500°С.
Заказать работу
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее — Два источника рентгеновского излучения: 2,2 кВт рентгеновская трубка (медный анод) и 80 Вт источник с точечным фокусом, замкнутая система охлаждения, защитный кожух, обеспечивающий безопасную работу оператора; — приставка для рентгенотопографических исследований с системой анализа изображения; — кристаллодержатель, на котором возможно крепление и исследования 200 мм пластин: диапазон перемещения по осям X и Y – 150 мм с точностью ± 5 мкм; по оси Z – 12 мм и ± 5 мкм, соответственно; — точность перемещения по осям w и 2q — 0,055 угл. с; — компьютеризированная система управления прибором, которая дает возможность быстро перестраивать оптическую схему прибора, создавать сценарий эксперимента и контролировать его ход без участия оператора; — возможность быстрой перестройки оптической схемы дифрактометра позволяет за короткий промежуток времени провести комплексное рентгеноструктурное исследование образца; — детектор с большим динамическим диапазоном (107). Заказать работу
Рентгеновский микроанализатор Oxford Instruments INCA Energy 350 X-Max20 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Предназначен для проведения энергодисперсионного микроанализа для растрового электронного микроскопа Заказать работу
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 VersaProbe II ЦКП «Материаловедение и металлургия» Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие

Сканирующий рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 VersaProbe II предназначен для исследования химического состава на поверхности твердых тел с возможностью визуализации поверхности исследуемых объектов во вторичных электронах, формирования карт химического состояния и профилирования по глубине.
Информативность метода РФЭС:
— идентификация всех химических элементов, кроме H, He;
— определение химического состояния элемента;
— средняя глубина анализа – 5 нм;
— чувствительность метода – 0,1-0,3 ат.%.
Требования к образцам:
Исследование химического состава может осуществляться на образцах твердых неорганических и органических материалов, электропроводящих и диэлектриков. Образцы не должны содержать летучие компоненты, способные существенно нарушить вакуум в камере прибора при температуре исследования.
Образцы могут быть в виде порошков, покрытий, волокон, пластин и др. формах.
Для крепления образцов используются держатели из нержавеющей стали четырех типов:
— держатель диаметром 25,4 мм с плоской поверхностью для крепления образцов диаметром не более 25,4 мм и высотой не более 2 мм;
— держатель диаметром 25,4 мм с прямоугольным углублением 20х10х5 мм для объемных образцов высотой не более 7 мм;
— держатель диаметром 60 мм с плоской поверхностью для крепления образцов диаметром не более 50 мм и высотой не более 2 мм, или для нескольких образцов меньших размеров;
— специальный держатель на 4 позиции для плоских образцов с линейными размерами до 7х7 мм и высотой не более 1,5 мм.
Технические характеристики основных компонентов спектрометра:
Источник монохроматического рентгеновского излучения Al Kα (1486,6 эВ) обеспечивает растровое сканирование образца сфокусированным рентгеновским пучком, что позволяет получать изображение поверхности во вторичных электронах и точно локализовать области анализа. Область анализа определяется диаметром сфокусированного рентгеновского пучка — от 9 до 200 мкм, в растровом режиме максимальная площадь составляет 0,6 мм 2 .
Энергетический анализатор полусферического типа обеспечивает многофункциональный анализ, включая сбор спектров, картирование, профили по глубине и анализ с угловым разрешением. Энергетическое разрешение, определенное как ПШПВ пика Ag 3d5/2, не хуже 0,50 эВ.
Ионная пушка Floating column Ar+ ion gun — моноатомный источник ионов аргона, обеспечивает максимальный ток ионного пучка &#8805 5 мкА при энергии 5 кэВ, максимальный размер растра 8*8 мм&#178, скорость травления при стандартном рабочем режиме (энергия 2 кэВ и растр 1х1 мм&#178) на SiO2 составляет 15 нм/мин.
Аргонная кластерная ионная пушка Ar2500+ GCIB, использующая для травления кластеры из 2500 атомов аргона, обеспечивает максимальный ток ионного пучка &#8805 40 нА при энергии 20 кВ. Скорость травления при стандартном рабочем режиме (энергия 2 кэВ и растр 2х2 мм&#178) на SiO2 составляет 2,6 нм/мин.
Преимущество кластерной пушки над моноатомной пушкой заключается в том, что Ar2500+ GCIB позволяет исключить или свести к минимуму явления деструкции образца, вызванные ионным травлением, что позволяет использовать её для удаления поверхностных загрязнений, как с неорганических, так и с органических материалов.
Аналитическая камера оснащена системой откачки, обеспечивающей остаточное давление в аналитической камере не более 6,7×10-8 Па.

Заказать работу
Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр UNISPEC SP1 Межкафедральная лаборатория наноматериалов Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Элементный анализ.
Тип образцов – твердые жидкие, порошковые, пленки, фильтры.
Диапазон определяемых элементов от Na до U.
Чувствительность: от 1 ppm.
Рентгеновская трубка Rh, 45 кВ.
Заказать работу
рН-метр Mettler Toledo Seven multi Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее Диапазон измерения pH -2,000 … 20,000
-Относительная погрешность pH ±0,002
-Дискретность pH (задается пользователем) 0,001/0,01/0,1
-Диапазон измерения мВ -2000,0 … 2000,0
-Относительная погрешность мВ ±0,2
-Дискретность мВ (задается пользователем) 0,1/1
-Диапазон измерения концентрации ионов 1,00E-9 … 9,99E+9
-Точность измерения концентрации ионов ±0,5%
-Температурный диапазон MTC -30,0 … 130,0°C
-Температурный диапазон ATC -5,0 … 130,0°C
-Точность измерения температуры ±0,1°C
-Дисплей 4,3′, цветной TFT
-Внешний источник питания 9-12 В/10 Вт
Заказать работу
Сепаратор просеивающий СПЭ Кафедра порошковой металлургии и функциональных покрытий Оборудование для физических и физико-химических методов разделения Предназначен для определения гранулометрического состава порошковых и зернистых проб сыпучих материалов при лабораторных исследованиях. Состоит из вибратора с электромагнитным приводом, набора сит, зажимного устройства и реле, устанавливающего продолжительность технологического режима работы. Для равномерного распределения материала по всей поверхности сеток и сокращения времени просева имеются наклонные элементы. Наличие размыкателя позволяет при необходимости прерывать процесс рассева на 2 ± 1 с.
Технические характеристики: Крупность просеиваемого материала 2,5-0,04 мм; Размер сита: диаметр 200 мм; высота 25,5 мм; Число одновременно устанавливаемых сит до 10; Производительность просеиваемых проб массой 100 г — 5 проб/ч; Максимальная амплитуда колебаний по вертикали 3 мм
Заказать работу
Синхронный ТГ-ДТА/ДСК анализатор STA 409 Luxx Кафедра цветных металлов и золота Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее Технические характеристики STA 409 PC Luxx:
— Загрузка системы сверху;
— Печь SiC (RT … 1550°C);
— Скорости нагрева 0 … 50 K/мин;
— Сенсоры TG – DTA;
— Термопары образца Тип S;
— Температурный интервал RT … 1550°C;
— Масса образца до 18 г;
— Предел измерения весов 18 г;
— Атмосферы — инертная, воздух;
— Вакуум 10-4 мбар.
Заказать работу
Система анализа поверхности органических, гибридных и биоматериалов ЦКП «Материаловедение и металлургия» Оборудование для изучения живых систем

Заказ работ временно недоступен

Сканирующий зондовый микроскоп MFP 3D Stand Аlone (Asylum Research) ЦКП «Материаловедение и металлургия» Приборы для микроскопических исследований Заказать работу
Сканирующий ионный микроскоп Strata FIB 205 System фирмы «FEI Company» ЦКП «Материаловедение и металлургия» Оборудование и приборы для масс-спектрометрии